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失效率(英語:Failure rate),也称故障率,是一個工程系統或零件失效的頻率,單位通常會用每小時的失效次數,一般會用希臘字母λ表示,是可靠度工程中的重要參數。
失效率
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失效率(英語:Failurerate),也稱故障率[1],是一個工程系統或零件失效的頻率,單位通常會用每小時的失效次數,一般會用希臘字母λ表示,是可靠度工程中的重要參數。
系統的失效率一般會隨著時間及系統的生命週期而改變。
例如車輛在第五年時的失效率會比第一年要高很多倍,一般新車是不會需要換排氣管、檢修煞車,也不會有重大傳動系統的問題。
實務上,一般會使用平均故障間隔(MTBF,1/λ)而不使用失效率。
若是失效率假設是定值的話,此作法是有效的(定值失效率的假設一般常用在複雜元件/系統,軍事或航天的一些可靠度標準中的也接受此假設),不過只有在浴缸曲線中平坦的部份(這也稱為「可用生命期」)才符合失效率是定值的情形,因此不適合將平均故障間隔外插去預估元件的生命期,因為當時會碰到浴缸曲線的損耗階段,失效率會大幅提高,生命期會較依失效率推算的時間要少。
失效率一般會用固定時間(例如小時)下的失效次數表示,原因是這樣的用法(例如2000小時)會比很小的數值(例如每小時0.0005次)容易理解及記憶。
在一些需要管理失效率的系統(特別是安全系統)中,平均故障間隔是重要的系統參數。
平均故障間隔常出現在工程設計要求中,也決定了系統維護及檢視的頻率。
失效率是保險、財務、商業及管制行業中的一個重要因子,也是安全系統設計的基礎,應用在許多不同的場合中。
風險率(Hazardrate)及故障發生率(rateofoccurrenceoffailures,ROCOF)的定義和失效率不同,常誤認為和失效率定義相同。
目次
1離散定義下的失效率
2連續定義下的失效率
3失效率遞減
3.1應用
3.2變異係數
4失效率資料
4.1單位
4.2加成性
4.3舉例
5估計
6相關條目
7參考資料
8外部連結
離散定義下的失效率編輯
失效率可以用以下的方式定義:
在一特定的測試條件及測試時間下,統計群體內失效次數總和,除以統計群體在失效前的測試時間總和[2]。
雖然失效率
λ
(
t
)
{\displaystyle\lambda(t)}
常被視為假設時間
t
{\displaystylet}
前沒有失效的情形下,在一段特定時間內出現失效的機率,但失效率可能會大於1,因此其實不是機率。
若錯誤的將失效率以%表示,也很容易造成對於失效率不正確的認知。
失效率可以用可靠度函數來定義,可靠度函數也稱為生存函數,是在時間
t
{\displaystylet}
之前沒有失效的機率。
λ
(
t
)
=
f
(
t
)
R
(
t
)
{\displaystyle\lambda(t)={\frac{f(t)}{R(t)}}}
,其中
f
(
t
)
{\displaystylef(t)}
為(第一次)失效發生時間的分佈(失效密度函數),而
R
(
t
)
=
1
−
F
(
t
)
{\displaystyleR(t)=1-F(t)}
.
λ
(
t
)
=
R
(
t
1
)
−
R
(
t
2
)
(
t
2
−
t
1
)
⋅
R
(
t
1
)
=
R
(
t
)
−
R
(
t
+
△
t
)
△
t
⋅
R
(
t
)
{\displaystyle\lambda(t)={\frac{R(t_{1})-R(t_{2})}{(t_{2}-t_{1})\cdotR(t_{1})}}={\frac{R(t)-R(t+\trianglet)}{\trianglet\cdotR(t)}}\!}
在從時間
t
1
{\displaystylet_{1}}
(或
t
{\displaystylet}
)到
t
2
{\displaystylet_{2}}
之間時間區間
(
t
2
−
t
1
)
{\displaystyle(t_{2}-t_{1})}
,而
Δ
t
{\displaystyle\Deltat}
定義為
(
t
2
−
t
1
)
{\displaystyle(t_{2}-t_{1})}
。
連續定義下的失效率編輯
指數失效密度函數
計算較短時間區間下的失效率,可以得到風險率(或風險函數)
h
(
t
)
{\displaystyleh(t)}
,是
Δ
t
{\displaystyle\scriptstyle\Deltat}
趨近於零時的瞬時失效率:
h
(
t
)
=
lim
Δ
t
→
0
R
(
t
)
−
R
(
t
+
Δ
t
)
Δ
t
⋅
R
(
t
)
.
{\displaystyleh(t)=\lim_{\Deltat\to0}{\frac{R(t)-R(t+\Deltat)}{\Deltat\cdotR(t)}}.}
連續的失效率和失效分佈
F
(
t
)
{\displaystyle\scriptstyleF(t)}
有關,失效分佈是描述失效機率的累積分布函數:
Pr
(
T
≤
t
)
=
F
(
t
)
=
1
−
R
(
t
)
,
t
≥
0.
{\displaystyle\operatorname{Pr}(T\leqt)=F(t)=1-R(t),\quadt\geq0.\!}
其中
T
{\displaystyle{T}}
失效時間。
失效分佈函數是機率密度函數f(t)的積分
F
(
t
)
=
∫
0
t
f
(
τ
)
d
τ
.
{\displaystyleF(t)=\int_{0}^{t}f(\tau)\,d\tau.\!}
風險函數可以定義為
h
(
t
)
=
f
(
t
)
1
−
F
(
t
)
=
f
(
t
)
R
(
t
)
.
{\displaystyleh(t)={\frac{f(t)}{1-F(t)}}={\frac{f(t)}{R(t)}}.}
許多機率分佈可以用來做為失效分佈的建模,常見的模型是指數失效分佈:
F
(
t
)
=
∫
0
t
λ
e
−
λ
τ
d
τ
=
1
−
e
−
λ
t
,
{\displaystyleF(t)=\int_{0}^{t}\lambdae^{-\lambda\tau}\,d\tau=1-e^{-\lambdat},\!}
是以指數分佈為基礎的失效分佈,風險函數為:
h
(
t
)
=
f
(
t
)
R
(
t
)
=
λ
e
−
λ
t
e
−
λ
t
=
λ
.
{\displaystyleh(t)={\frac{f(t)}{R(t)}}={\frac{\lambdae^{-\lambdat}}{e^{-\lambdat}}}=\lambda.}
因此對於指數失效分佈,風險函數對時間為定值(分佈為無記憶性(英語:Memorylessness))。
但對於像韋伯分布或對數常態分布等其他分佈,風險函數對時間可能不是定值。
失效率遞減編輯
失效率遞減(DFR)是指一零件或系統在一段特定時間內,失效率會隨著時間而減小的現象。
像早期失效已被移除或是修正後,就會有一段時間有失效率遞減的情形[3],此時的λ(t)為遞減函數。
DFR的隨機變數混合後仍為DFR[4],而指數分布的隨機變數混合後也是為DFR[5]。
應用編輯
失效率遞增是因為零件老化所造成,失效率遞減則是指一個系統會隨著時間而漸漸強化[5]。
在太空船的生命期中有發現失效率遞減的情形,Baker和Baker的註解是「這太空船會一直一直維持下去。
」[6][7]。
太空船空調系統的可靠度發現符合指數分布,因此也會滿足失效率遞減的情形[5]。
變異係數編輯
當失效率遞減時,其變異係數⩾ 1,當失效率遞增時,其變異係數⩽ 1.[8],不過這只在失效率是定義在整個t ⩾ 0的時間下才有效[9],而且無法由變異係數去反推失效率。
失效率資料編輯
失效率資料可以由許多方式求得,常見的有以下幾種方式:
待確認系統或設備的歷史資料
許多組織都對於生產設備或產品的故障有內部的資料庫,可以用來計算設備或系統的失效率。
對於新的設備或是系統,則可以先用類似設備或是系統的失效率做為估計值。
政府或商用的失效率資料庫
政府及商業組織會有許多零件的失效率手冊。
MIL-HDBK-217F(電子元件的可靠度預估)是有許多軍用電子零件失效率的軍用規範。
也有許多商用的失效率資料庫,主要針對商用的零件,甚至包括一些非電子的元件。
測試
最準確的方式是用實際的設備或是系統進行測試,以得到失效率資料。
但此作法常有成本極其高昂或是不可行的缺點,因此會改用上述的作法。
單位編輯
失效率一般會用固定時間(例如小時)下的失效次數表示,不過也可以用其他的單位,像是公里數、旋轉圈數……等來代替固定的時間。
在工程應用上,因為失效率一般很低,個別零件失效率常以PPM表示,也就是每百萬工作小時的失效次數。
失效率也會以菲特(FIT,FailuresInTime)表示[10],是109設備-小時下(例如一千個零件運轉百萬小時,一百萬個零件運轉一千小時……等)預期的失效次數,一般用在半導體產業中。
菲特和失效間隔時間(MTBF)之間的關係是MTBF=1,000,000,000x1/FIT。
加成性編輯
在一定的工程假設下(例如固定的失效率,以及考慮的系統沒有明顯的冗餘),複雜系統的失效率可以表示為個別元件失效率的和,但各元件的失效率需要有一致的單位,例如每百萬工作小時等。
因此可以測試每個別的元件或子系統,將其失效率加總後即可以得到整體的失效率[來源請求]。
舉例編輯
假設要估計特定元件的失效率,可以用以下的測試方式測試其失效率。
用十個完全相同的元件測試到損壞或是滿1000小時為止,(此例中不考慮
統計的信賴區間),記錄測試的總時間,以及總共損壞元件的個數,其結果如下:
6
failures
7502
hours
=
0.0007998
failures
hour
=
799.8
×
10
−
6
failures
hour
,
{\displaystyle{\frac{6{\text{failures}}}{7502{\text{hours}}}}=0.0007998{\frac{\text{failures}}{\text{hour}}}=799.8\times10^{-6}{\frac{\text{failures}}{\text{hour}}},}
或是每百萬工作小時會有799.8次失效。
估計編輯
尼爾森-艾倫估測子(英語:Nelson–Aalenestimator)可以用來估計累積危險率函數。
相關條目編輯
年化失效率(英語:Annualizedfailurerate)
燒機
失效(英語:Failure)
失效原因
死亡力(英語:Forceofmortality)
可靠度
可靠度理論(英語:Reliabilitytheory)
成功率(英語:Successrate)
生存分析
韋伯分布
參考資料編輯
^中國規範術語-檢索結果
^MacDiarmid,Preston;Morris,Seymour;等.ReliabilityToolkitCommercialPractices.Rome,NewYork:ReliabilityAnalysisCenterandRomeLaboratory.n.d.:35–39. 引文格式1維護:顯式使用等標籤(link)
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^MarkBrown.Bounds,Inequalities,andMonotonicityPropertiesforSomeSpecializedRenewalProcesses.TheAnnalsofProbability.April1980,8(2):227–240[2018-04-02].ISSN 0091-1798.doi:10.1214/aop/1176994773.(原始內容存檔於2018-06-02)(英語).
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^J.C.BAKER,G.A.SR.BAKER.Impactofthespaceenvironmentonspacecraftlifetimes.JournalofSpacecraftandRockets:479–480.doi:10.2514/3.28040.
^OnTime,Reliability,andSpacecraft.Wiley-Blackwell. :1–8[2018-04-02].doi:10.1002/9781119994077.ch1(英語).
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^Gautam,Natarajan.AnalysisofQueues:MethodsandApplications.CRCPress.2012:703.ISBN 1439806586.
^电子产品制造技术-第25页-Google图书结果.[2014-11-24].(原始內容存檔於2014-11-29).
外部連結編輯
ReliabilityPredictionofElectronicEquipment,MIL-HDBK-217F(2),(DODdownloadsite.)
BathtubcurveissuesbyASQC.(頁面存檔備份,存於網際網路檔案館)
FaultTolerantComputinginIndustrialAutomationbyHubertKirrmann,ABBResearchCenter,Switzerland
UsenetFAQaboutMTBF(頁面存檔備份,存於網際網路檔案館)
ReliabilityandAvailabilityBasics(頁面存檔備份,存於網際網路檔案館)
Productfailurebehaviorandwearout(頁面存檔備份,存於網際網路檔案館)
取自「https://zh.wikipedia.org/w/index.php?title=失效率&oldid=68241847」
延伸文章資訊
- 1失效率- 维基百科,自由的百科全书
失效率(英語:Failure rate),也称故障率,是一個工程系統或零件失效的頻率,單位通常會用每小時的失效次數,一般會用希臘字母λ表示,是可靠度工程中的重要參數。
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定義. ➢ 指系統,次系統或裝備在操作或使用環境下的平均失效. 時間。 ✰研發/設計階段之硬體可靠度分析. ➢ 電子零件依美軍軍規MIL-STD-217E 分析計算其MTBF值。