自動光學檢查- 维基百科,自由的百科全书
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自動光學檢查
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CCD自動光學鏡頭處理檢測物件
自動光學檢查(英語:AutomatedOpticalInspection,簡稱AOI),為高速高精度光學影像檢測系統,運用機器視覺做為檢測標準技術,作為改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測的缺點,應用層面包括從高科技產業之研發、製造品管,以至國防、民生、醫療、環保、電力…等領域。
自動光學檢查是工業製程中常見的代表性手法,利用光學儀器取得成品的表面狀態,再以電腦影像處理技術來檢出異物或圖案異常等瑕疵,因為是非接觸式檢查,所以可在中間工程檢查半成品。
高精度光學影像檢測系統,包含量測鏡頭技術、光學照明技術、定位量測技術、電子電路測試技術、影像處理技術及自動化技術應用等領域,其開發應用不但符合高科技產業發展需求,其技術層面更可擴展至國防軍事工業,舉凡兵工武器製造、夜視作戰系統、戰略地形形貌之分析與研判等,都與此影像技術息息相關。
目次
1基本架構
2應用
3發展趨勢
4參考連結
5參照
6參考文獻
基本架構[編輯]
LCD工業的自動光學檢測設備
自動光學檢測設備組成部位:
光學部分:
CCDCamera(檢測鏡頭)──
光源(上下光源打光)──
ReviewCamera(複檢確認鏡頭)──
系統主機部分(由個人電腦與週邊組成):
CIM系統主機──
系統主機螢幕──
瑕疵檢查主機──
瑕疵檢查主機螢幕──
網路連結
集線器(Hub)──
Network──乙太網路、CC-Link
動力控制部分
伺服驅動機構
可程式邏輯控制器(PLC)或PCBase控制主機
應用[編輯]
AOI技術領域非常廣泛,廣義的AOI為結合光學感測系統、訊號處理系統及分析軟體,應用層面可包括宇宙探測、航空、衛星遙測、生物醫學、工業生產品質檢測、指紋比對、機器人控制、多媒體技術。
狹義的AOI則指目前大量應用工業自動化的LCD/TFT、電晶體與PCB工業製程上的光學檢測設備,以及在IC及一般電子業、機械工具/自動化機械、電機/電子工業、金屬鋼鐵業、食品加工/包裝業、紡織皮革工業、汽車工業、建築材料、保全/監視等的自動光學結合影像處理的系統。
發展趨勢[編輯]
技術規格
完整行程須在60秒內(甚至更短)
錯誤判斷發生率的降低(避免操作人員的重複檢查)
盡可能的減少稼動損失(例如減少交換被檢查單元的時間)
提高模糊比對的功能
影像解析度不斷提高
可檢測出週邊線路(以往只需要檢測面板內部)
可儲存面板的瑕疵影像
自動分類瑕疵
設備功能
可輸出分析表格與圖形
可檢出Mura(英語:Mura(Japaneseterm))瑕疵功能
可處理修補瑕疵功能
參考連結[編輯]
參照[編輯]
自動化技術
光學
自動控制
參考文獻[編輯]
陳茂成,「從國際FPD產業趨勢看國內發展商機與挑戰」,工研院IEK產業情報網,2004年12月。
黃仲龍,「提昇LCD設備自製率議題評析」,工研院IEK產業情報網,2004年11月。
五十嵐大作,小田切章,久保哲夫,「TheLatextOpticalInspectionEquipmentthatinfluencestheYieldofLarge-screen,Flat-screenTVProduction」,14thFPDmanufacturingtechnologyexpo&conference,TokyoBigSight,TowerBldg.,Japan,July,2004.
張鈞傑,黃俊堯,鄭晃忠,「缺陷檢測技術在液晶顯示器製造之應用」,科儀新知,25卷第二期,第23頁至35頁,2003年10月。
林道榮,「薄膜電晶體液晶面板自動光學檢測設備發展概況」,台灣工銀金融電子週報,2004年06月。
Jung-HunKim,SukAhn,JaeWookJeon,Jong-EunByun,「Ahighspeedhigh-resolutionvisionsystemfortheinspectionofTFTLCD」,IEEEInternationalSymposiumonIndustrialElectronics,Proceedings.ISIE2001,vol.1,pp101-105,2001.
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K.Nakashima,「HybridInspectionSystemforColorFilterPlanes」,ProceedingsofIEEEInstrumentationandMeasurementTechnologyConference,Hamamatsu,Japan,Vol.2,pp.689-692,1994.
取自「https://zh.wikipedia.org/w/index.php?title=自動光學檢查&oldid=49771813」
分類:電子工業自動控制光電子學顯示科技隱藏分類:含有英語的條目
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