LCD 自動光學檢測設備 - 由田新技股份有限公司

Array AOI 針對Array段製程的基板提供精準自動光學檢測分析，可檢最大基板尺寸 ... ILSP 採用高精密量測儀器並針對Cell段製程CF於BM、R、G、B、OC及PS塗佈後進行色度量 ... 886-2-82262088 TOP 首頁 由田產品 平面顯示器檢測系列 由田產品 印刷電路板檢測系列 PCB檢測設備 IC載板檢測設備 卷對卷檢測設備 平面顯示器檢測系列 LCD自動光學檢測設備 LCM自動光學檢測設備 OLED及TP自動光學檢測設備 半導體檢測系列 半導體自動光學檢測設備 COF檢測設備 其他檢測系列 其他檢測設備 LCD自動光學檢測設備 Array高解析度自動光學檢測設備 ArrayAOI針對Array段製程的基板提供精準自動光學檢測分析，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

彩色濾光片自動光學檢測設備 CFAOI針CF段製程的基板提供精準自動光學檢測分析，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

配向膜自動光學檢測設備 PIAOI針對Cell段製程中配向膜塗佈後可能產生的塗佈不均、Particle等缺陷進行精準檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

框膠製程自動光學檢測設備 SealAOI針對Cell段框膠黏合後製程中可能產生的缺陷進行高精準掃描檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

In-lineOD/膜厚/色度自動量測設備 ILSP採用高精密量測儀器並針對Cell段製程CF於BM、R、G、B、OC及PS塗佈後進行色度量測、膜厚量測、塗佈異常檢測等精密檢測分析，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

PSVA自動光學檢測設備 NPMVA針對CF製程中CF和TFT的玻璃貼合後尚未裁切之料片，通電進行液晶狀況檢測，可檢出Mura、液晶異常或異物混入等缺陷；同時具備輝度量測、灰階對比、反應時間量測分析功能，是全方位的自動光學檢測設備。

可檢最大基板尺寸達到G10.5。

TFT-LCD製程缺陷自動拍照機 針對TFT-LCD全製程提供精準的缺陷複檢，即時分析檢測資訊，有效提升產品品質。

Mura缺陷自動光學檢測設備 DM針對塗佈後、曝光前所產生之Mura進行精準檢測，亦可適用於Arrayin-line/final、CFin-line/final、LCDfinal等各製程基板檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

切割後玻璃外觀光學檢測設備 CutAOI針對偏貼前的大尺寸玻璃基板進行外觀檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。

PCS外觀光學檢測設備 PCSAOI針對偏貼前已切割的小尺寸玻璃基板進行外觀檢測，可檢基板尺寸為4"~15.6"。