平面度測量-原理 - iFuun

平面度又稱平坦度，其定義為：以相距最小距離之兩平行平麵包絡所有平面量測點，此最小距離即為真平度，其標註與說明如表1-1。

... 簡易法之實施方式為：以受測平面上三點為 ... 當前位置：首頁>最新>平面度測量-原理 平面度測量-原理 最新 08-10 1平面度（Flatness）及其測量表1-1平面度的標註說明如下圖 平面度又稱平坦度，其定義為：以相距最小距離之兩平行平麵包絡所有平面量測點，此最小距離即為真平度，其標註與說明如表1-1。

真平度之測量可大約分為大平面、一般工件平面、精細小平面等之測量，一般工件平面之測量，視其精度要求，可以簡易法量取或經由各種量測設備如三次元、直邊規配合量表、電子水平儀、視准儀配合反射鏡等獲得平面點數據後，再以最小平方誤差法、最小區域法等作電腦輔助計算，精細小平面以光學平板量測之，本節僅針對最小平方誤差法作詳細說明，最小區域法將不在此介紹。

1-簡易法求真平度簡易法之實施方式為：以受測平面上三點為基準點，相對此三點構成之平面，找出受測平面上下起伏之總量即得簡易法真平度。

以調整台於平板上實施（如圖1-1）之步驟為：（1）受測件置於調整台上，受測面朝上，（2）取受測平面上三點為基準點，調整此三點量表讀數相同，（3）以量表於受測平面上全面掃描，總偏擺量即為簡易法平面度。

圖1-1調整台簡易法求平面度 簡易法亦可以基準點墊高法求取，可免去基準點高度調整程序，如圖1-3所示，受測面朝下，以等高之柱塞規三支（亦可以塊規或精密墊塊）支撐三基準點於平板上，再以槓桿式量表測量底面（即受測面），總偏擺量即為平面度圖1-3基準點墊高法求真平度2-干涉法求真平度利用光波之干涉原理，解讀干涉條紋以求取平面之真平度，通常用於精細小平面之測量（如塊規量測面、分厘卡測砧面、光學平板、平面鏡、長度標準桿之端面等），受測平面必須夠光滑以觀察干涉條紋，干涉法使用之儀器有干涉儀、光學平板等，使用儀器雖不同，但干涉條紋之判讀是一樣的，本節僅就干涉條紋之判讀加以說明。

圖1-4光學平板測量例 3-直接接觸法求平面度如圖1-5，先以設定塊設定歸零，然後直接將受測面面向量表探頭，測得之量表總偏擺量即為直接接觸法真平度。

圖1-5直接接觸法求平面度4-最小平方法求平面度以電腦輔助形狀誤差計算，最小平方法為一般最基本的方法。

一般平面方程式可表示為： Z-AX-BY-C=（1-1）-End-來源：原創喜歡這篇文章嗎？立刻分享出去讓更多人知道吧！本站內容充實豐富，博大精深，小編精選每日熱門資訊，隨時更新，點擊「搶先收到最新資訊」瀏覽吧！請您繼續閱讀更多來自非標自動化培訓的精彩文章: TAG:非標自動化培訓| 全球趣味資訊 iFuun|最新|總覽