成分分析| 材料識別| EAG實驗室

成分分析和材料識別方法可用於確定未知材料的成分，確認可疑材料的身份以及識別相似材料之間的差異。

未知組件通常可能是導致難題的根本原因，因此識別意外材料的存在 ... 服務項目 材料測試與分析 成分和材料ID 問EAG 成分分析和材料鑑定成分分析和材料識別方法可用於確定未知材料的成分，確認可疑材料的身份以及識別相似材料之間的差異。

未知組件通常可能是導致難題的根本原因，因此識別意外材料的存在非常重要。

EAG通過使用單獨的和組合的成分分析技術以及專家數據解釋，開發了識別和表徵未知物的專業知識。

EAG的科學家已經確定了塗料，塑料，食品，消費品，化學品，藥品，醫療器械，半導體，消費品，添加劑，粘合劑等中（或上）的多種材料。

我們的實驗室已經確定了以下材料： 表面上有未知殘留物 未知的粒子 未知的有機和無機材料 意外的異物 未知添加劑或表面活性劑 一旦我們確定了材料的化學性質，通過進一步的材料表徵就可以更好地理解組成。

有了這些信息，我們能夠幫助我們的客戶： 確定已識別材料的潛在來源 比較兩種不同材料的化學成分 確認可疑材料的身份 從潛在競爭對手或產品的新供應商那裡識別材料 成分分析的首選技術取決於許多因素： 對樣品有什麼了解？ 需要量化什麼（主要元素、次要元素、化學成分或分子/有機成分）？ 這是表面分析，本體分析還是層分析？ 可以使用破壞性測試方法嗎？ 樣品是否獨一無二？ 為了了解產品的配方，EAG的逆向工程（變形）服務可幫助客戶了解其產品的化學成分。

了解有關變形的更多信息。

表面分析 元素和化學表面成分最好使用具有淺信息深度(<100Å)的定量技術進行測量，例如俄歇電子能譜（僅限導電材料）或X射線光電子能譜（所有材料）。

批量分析 散裝成分最好通過具有大/深信息深度的技術來確定，這些技術忽略了表面上/表面上的潛在成分變化。

這些方法通常不提供特定於深度的信息。

X射線熒光（XRF）和電感耦合等離子體發射光譜（ICP-OES）是可以量化主要和次要元素組分的最相關技術。

傅立葉變換紅外光譜（FTIR）和拉曼光譜學非常適合識別塑料，聚合物和其他有機材料。

薄層分析 用於分析薄層和薄膜的技術取決於所需的信息和样品特徵。

為了定量薄膜中已知的主要元素，盧瑟福背散射光譜法（RBS）是首選技術。

如果感興趣的電影的主要組成部分未知，X射線光電子能譜（XPS）是一個不錯的選擇。

俄歇電子能譜如果分析區域的尺寸受限（並且也是導電的），則可以使用（AES）。

二次離子質譜（SIMS）具有一系列用於半導體薄膜的高精度成分測量的應用。

傅立葉變換紅外光譜（FTIR）和拉曼光譜學非常適合從有機薄膜中獲取化學或分子信息。

請致電EAG實驗室的成分分析專家討論您的項目，電話18003663867或填寫我們的“請專家與您聯繫”表格。

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